Оптический экспресс-контроль материалов
Материалы обычно анализируются в лабораториях специалистами узкого профиля на труднодоступном стационарном оборудовании, что не может выполняться в потоке или в полевых условиях. Как правило, это зарубежное прецизионное оборудование, что при ограничении поставок тормозит развитие. Оцифровка качественных и количественных лабораторных анализов объектов при их существенной корреляции с оптическими свойствами разрешает эти проблемы с помощью портативного универсального микроскопа-спектрометра на базе цифровой чёрно-белой измерительной камеры.
Области применения технологии
- Геологоразведка – анализ твёрдых пород, почв и сыпучего грунта
- Строительство – контроль качества строительных материалов
- Сельское хозяйство – анализ болезней растений по листовой поверхности
- Промышленность – производственный автоматический контроль качества исходного сырья и выпускаемых материалов в потоке
- Потребительский сектор – контроль качества товаров
- Криминалистика – экспертные исследования
- Таможенный контроль и системы безопасности – быстрый анализ подозрительных жидких, твёрдых и сыпучих веществ
- Научные исследования объектов в полевых условиях и в космосе (на планетах земной группы, их спутниках и малых космических телах)
На основе опыта микроскопа-спектрометра MicroOmega для космической миссии «Фобос-Грунт» (2008) и комплекса «Спектр» (2010) для анализа пищевых сред, наша компания в 2022 году изготовила полностью автоматизированный прототип микроскопа-спектрометра RT-1280MS на базе цифровой камеры RT-1280LYNX.
Схема работы микроскопа-спектрометра RT-1280MS
Внешний вид RT-1280MS с примером сканирования образца
Автоматическая калибровка камеры по эталону диффузного отражения
Пример базы данных эталонных образов объектов
Пример анализа образца с оценкой принадлежности разным классам эталонов
Технические характеристики микроскопа-спектрометра RT-1280MS
Характеристика |
Значение |
Объектив |
50 мм, фиксированный фокус |
Настройка фокуса
|
Ручная по «белому» свету (включены все группы светодиодов) |
Разрешение деталей, мкм/пиксель |
10 |
Размер изображения, пиксели |
1280 × 1024 |
Глубина оцифровки сигнала, бит
|
8, 10 |
Частота съёмки, Гц |
25 |
Время сканирования образца, с |
< 1,9
|
Спектральный диапазон наблюдения, нм |
380 .. 980 |
Число спектрально независимых зон анализа |
1, 2, ..., 8 |
Пики спектрозональной подсветки, нм |
397, 470, 520, 590, 660, 770, 850, 940 |
Формат баз данных эталонов и образцов |
Файлы *.csv |
Анализ образцов |
По гистограммам яркости в зонах наблюдения |
Калибровка |
Однократная автоматическая: настройка экспозиции камеры по эталону диффузного отражения |
Интерфейс с управляющим компьютером |
CoaXpress через плату управления RT-650CXP |
Питание |
Через адаптер 12 В, 1,5 А |
Габариты, мм |
120 × 120 × 280 |
Масса, кг |
1,06 |
|